半成品的缺陷检测设备

授权

摘要

本实用新型公开一种半成品的缺陷检测设备，包含机架以及安装于机架的平面移载机构、光学检测机构与遮尘件。所述平面移载机构的移动范围定义有待测区及防尘区、并能用来定位多个相机模块，以使其在待测区及防尘区移动。所述光学检测机构位于待测区的上方、并用来对多个相机模块依序地拍摄，以取得检测图像。所述遮尘件覆盖防尘区，用以使通过光学检测机构检测的至少一个所述相机模块的被拍摄区域能够符合所述检测图像。据此，所述半成品的缺陷检测设备能有效地提升所述相机模块的检测精准度。

基本信息

专利标题：

半成品的缺陷检测设备

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN202020071802.2

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2020-01-14

授权号：

CN211697543U

授权日：

2020-10-16

发明人：

郭温良柯冠宇张艳鹏

申请人：

纮华电子科技(上海)有限公司

申请人地址：

上海市嘉定区马陆镇陈宝路66弄8号

代理机构：

隆天知识产权代理有限公司

代理人：

任芸芸

优先权：

CN202020071802.2

主分类号：

G01N21/88

IPC分类号：

G01N21/88 G01N21/01 G01N21/15