一种缺陷检测设备
授权
摘要
本实用新型公开了一种缺陷检测设备，旨在克服现有技术中工作效率低、漏检的问题，它包括底座，底座上设置有可竖直滑动的工作台，底座和工作台之间设置有高度调节机构，工作台上设置有卸料机构和可横向滑动的检测机构，所述高度调节机构用于调节工作台在底座上的高度，检测机构包括背景板、光源、CCD相机，可对通过的手套进行拍照，卸料机构包括第三机架，第三机架固定设置在工作台上，第三机架上设置有驱动装置，第三机架上还转动设置有转轴，驱动装置传动连接有转轴，转轴的周向上固定设置有至少两个气动手指，气动手指用于拆卸存在瑕疵的手套，因此支持连续下料。
基本信息
专利标题 ：
一种缺陷检测设备
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202021120052.X
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-06-17
授权号 ：
CN212722645U
授权日 ：
2021-03-16
发明人 ：
马伟华王伟
申请人 ：
杭州超凡自动化科技有限公司
申请人地址 ：
浙江省杭州市萧山区宁围街道恒瑞名座1幢1单元1103室-3
代理机构 ：
杭州兴知捷专利代理事务所(特殊普通合伙)
代理人 ：
周文停
优先权 ：
CN202021120052.X
主分类号 ：
G01N21/88
IPC分类号 ：
G01N21/88 B07C5/342
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/84
专用于特殊应用的系统
G01N21/88
测试瑕疵、缺陷或污点的存在
法律状态
2021-03-16 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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