缺陷检测装置及硅片分选设备
授权
摘要
本实用新型提供一种缺陷检测装置及硅片分选设备，该缺陷检测装置包括：检测单元，设置在输送装置的机架上，且位于输送装置的指定检测位置上方，用于对经过指定检测位置的电池片或硅片的隐裂进行检测；及光源，设置在输送装置的机架上，用于向指定检测位置提供光照。本实用新型提供的缺陷检测装置，其可以在电池片或硅片的传输过程中自动检测电池片或硅片的缺陷，而且检测精度和可靠性较高。
基本信息
专利标题 ：
缺陷检测装置及硅片分选设备
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201920649746.3
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-05-08
授权号 ：
CN210571994U
授权日 ：
2020-05-19
发明人 ：
李文李昶徐飞
申请人 ：
无锡奥特维科技股份有限公司
申请人地址 ：
江苏省无锡市无锡新区珠江路25号
代理机构 ：
北京路胜元知识产权代理事务所(特殊普通合伙)
代理人 ：
路兆强
优先权 ：
CN201920649746.3
主分类号 ：
G01N21/88
IPC分类号 ：
G01N21/88
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/84
专用于特殊应用的系统
G01N21/88
测试瑕疵、缺陷或污点的存在
法律状态
2020-05-19 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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