定位柱缺陷工业视觉检测设备
授权
摘要

本实用新型涉及一种定位柱缺陷工业视觉检测设备。所述检测设备包括拍摄模组、图像处理及分析模组、第一调节模组,所述拍摄模组用于沿与待检测产品的定位柱的延伸方向呈预设倾斜角度的拍摄方向拍摄所述定位柱以获得检测图像,所述检测图像包含所述定位柱的侧面图像;所述图像处理及分析模组用于依据所述检测图像获取所述定位柱的侧面投影面积及/或所述定位柱的侧面投影高度,以及依据所述定位柱的侧面投影面积及/或所述定位柱的侧面投影高度分析所述定位柱是否具有缺陷,所述第一调节模组用于调节所述拍摄模组的预设倾斜角度。

基本信息
专利标题 :
定位柱缺陷工业视觉检测设备
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202021904619.2
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-09-03
授权号 :
CN212514319U
授权日 :
2021-02-09
发明人 :
刘活刘自龙许方细
申请人 :
深圳市科斯福科技有限公司
申请人地址 :
广东省深圳市龙华区龙华街道清湖社区清湖村富安娜公司1号3楼
代理机构 :
代理人 :
优先权 :
CN202021904619.2
主分类号 :
G01N21/95
IPC分类号 :
G01N21/95  G01N21/88  G01B11/06  G01B11/28  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/84
专用于特殊应用的系统
G01N21/88
测试瑕疵、缺陷或污点的存在
G01N21/95
特征在于待测物品的材料或形状
法律状态
2021-02-09 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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