光源装置及缺陷检测设备

授权

摘要

本实用新型提供了一种光源装置及缺陷检测设备，涉及成像设备技术领域。所述光源装置包括：固定基座、升降结构、调节环和光源主体，所述升降结构能够相对于所述固定基座沿第一方向滑动，且所述升降结构与所述固定基座上对应设置有第一限位结构，所述第一限位结构用于阻止所述升降结构相对于所述固定基座旋转；所述调节环与所述升降结构螺纹连接；所述固定基座上设置有第二限位结构，所述第二限位结构用于阻止所述调节环相对于所述固定基座沿第一方向运动；所述光源主体与所述升降结构连接。

基本信息

专利标题：

光源装置及缺陷检测设备

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN202021334841.3

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2020-07-09

授权号：

CN212872246U

授权日：

2021-04-02

发明人：

李英坤姜豪刘风雷

申请人：

浙江水晶光电科技股份有限公司

申请人地址：

浙江省台州市椒江区星星电子产业区A5号（洪家后高桥村）

代理机构：

北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙)

代理人：

孙海杰

优先权：

CN202021334841.3

主分类号：

G01N21/956

IPC分类号：

G01N21/956 G01N21/01