矩形多光源打光装置及其应用的缺陷检测方法
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摘要

本发明公开了一种矩形多光源打光装置及其应用的缺陷检测方法,所述打光装置包括:调节支架,包括z向支架以及可沿z向支架竖直运动的活动框架;打光支架,包括“井”字形框架,所述“井”字形框架于周向延伸形成四对悬臂,两两相对的悬臂内侧用于架设光源,两两相对的悬臂外侧用于设置角度调节装置;所述“井”字形框架于底部还设有拍摄组件;呈物台,于所述打光支架底部形成的待测区域;控制器,用于控制各所述光源按预设规则点亮或熄灭,并控制所述拍摄组件获取待测工件的图像;机器视觉检测模块,用于根据所有照明环境下拍摄组件获取的待测工件的图像,生成合成图像。所述缺陷检测方法,应用于上述打光装置。本发明模块化组装保障了检测可靠性。

基本信息
专利标题 :
矩形多光源打光装置及其应用的缺陷检测方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN110231342A
申请号 :
CN201910507312.4
公开(公告)日 :
2019-09-13
申请日 :
2019-06-12
授权号 :
CN110231342B
授权日 :
2022-05-27
发明人 :
金闳奇陈新度吴磊
申请人 :
广东工业大学
申请人地址 :
广东省广州市大学城外环西路100号广东工业大学
代理机构 :
广州专理知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
谭昉
优先权 :
CN201910507312.4
主分类号 :
G01N21/88
IPC分类号 :
G01N21/88  G01N21/01  H04N5/265  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/84
专用于特殊应用的系统
G01N21/88
测试瑕疵、缺陷或污点的存在
法律状态
2022-05-27 :
授权
2019-10-15 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 21/88
申请日 : 20190612
2019-09-13 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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