本实用新型公开了一种用于电路板缺陷检测的打光装置及缺陷检测装置，打光装置包括安装基座、多个UV光源以及第一滤波片，其中，所述UV光源用于提供UV光，所述UV光源设置在所述安装基座上；所述第一滤波片为透明镀膜滤片，且所述第一滤波片与所述物镜配合设置，使得UV光通过所述第一滤波片被过滤；所述安装基座还与所述物镜配合设置，使得所述UV光源发出的UV光能够照射在待检测电路板上，进而令所述缺陷检测设备能够在UV光下进行缺陷检测。本实用新型提供的技术方案利用多个UV光源对电路板进行打光，打光充足，并通过滤光片的过滤作用，使检测系统能够在UV光的照射下进行电路板缺陷检测工作，安全可靠。