印制电路板缺陷的X光检测装置
专利权的终止
摘要

本实用新型公开了一种印制电路板缺陷的X光检测装置,包括可转动的X光机、PLC控制器、图像采集卡和PC智能系统;X光机与置于PC机内的图像采集卡电连接;PLC控制器与PC智能系统电连接且能够在线通信;PLC控制器与X光机电连接,控制X光机的转动,所述PC智能系统包括存储器、图像处理模块、控制模块、通信模块,当PC智能系统的控制模块发现一个或者多个X光图像未覆盖到检测对象的全部面积时,则通过PC智能系统通信模块告知PLC控制器控制X光机的转动,实现X光机与检测对象印制电路板之间相对位置的调整,直到X光图像覆盖到检测对象的全部面积。由于X光的穿透性,系统对印制电路板工艺缺陷检测的覆盖率大大提高。

基本信息
专利标题 :
印制电路板缺陷的X光检测装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN200720048239.1
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2007-02-05
授权号 :
CN201034949Y
授权日 :
2008-03-12
发明人 :
黄茜张宁
申请人 :
华南理工大学;广州市海立信息技术有限公司
申请人地址 :
510640广东省广州市天河区五山路381号
代理机构 :
广州粤高专利代理有限公司
代理人 :
何淑珍
优先权 :
CN200720048239.1
主分类号 :
G01N23/18
IPC分类号 :
G01N23/18  G01R31/304  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料,例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/02
通过使辐射透过材料
G01N23/06
并测量吸收
G01N23/18
测试缺陷或杂质存在
法律状态
2010-08-04 :
专利权的终止
未缴年费专利权终止号牌文件类型代码 : 1605
号牌文件序号 : 101004377398
IPC(主分类) : G01N 23/18
专利号 : ZL2007200482391
申请日 : 20070205
授权公告日 : 20080312
2008-03-12 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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