一种涂层缺陷X射线无损检测装置

授权

摘要

本实用新型提供一种涂层缺陷X射线无损检测装置，属于无损检测技术领域。该装置包括主机、支架和控制显示部分，主机通过支架固定，控制显示部分控制主机运行和支架移动，并对探测信号进行显示。主机包括激光定位器、X射线管和X射线探测器，主机安装在支架上，X射线管和X射线探测器依据X射线衍射原理布置，控制显示部分控制主机运行和支架移动，并对探测信号进行显示。该装置依据X射线衍射和吸收原理，可检测涂层的缺陷，例如磕碰划伤、气泡、疏松、腐蚀等缺陷。本装置结构简单,重量轻方便携带，操作简便,检测时间短，探测器与工件非接触，不损伤破坏涂层。

基本信息

专利标题：

一种涂层缺陷X射线无损检测装置

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN201920665905.9

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2019-05-10

授权号：

CN210037669U

授权日：

2020-02-07

发明人：

张津连勇焦进超徐伟生吕克茂张学增

申请人：

北京科技大学;邯郸爱斯特应力技术有限公司

申请人地址：

北京市海淀区学院路30号

代理机构：

北京市广友专利事务所有限责任公司

代理人：

张仲波

优先权：

CN201920665905.9

主分类号：

G01N23/2055

IPC分类号：

G01N23/2055