一种利用X射线检测产品内部缺陷的装置
授权
摘要
一种利用X射线检测产品内部缺陷的装置，属于检测领域。本实用新型解决技术问题采用的装置设有台面为“十”字状升降台，“十”的四个端点设有“U”状卡槽，卡槽开口向外，卡槽内设有转盘，转盘为正方形状，正方形中心位置为圆盘，圆盘可旋转且圆盘表面设有“L”状机械抓，机械抓一条边贴于圆盘内，另一条边与圆盘面垂直。本实用新型还设有轨道，轨道一端设于升降台一个转盘正下方，轨道另一端设置于隔离舱内，隔离舱内轨道端点两侧分别设有数字成像器和X‑射线机，轨道上设有载物车，载物车用来运输转盘。隔离舱外侧设有图像处理器和电器控制器。本实用新型生产操作性强、安全可靠、图像灵敏度高、缺陷评定准确且自动化程度高可连续工作。
基本信息
专利标题 ：
一种利用X射线检测产品内部缺陷的装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202020673123.2
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-04-28
授权号 ：
CN212364135U
授权日 ：
2021-01-15
发明人 ：
刘丽芳郭晶赵庆杨玉玺何维民温嘉琪孟祥龙伊延龙韩兆成徐连奇田秀金
申请人 ：
奥镁(大连)有限公司
申请人地址 ：
辽宁省大连市经济技术开发区铁山中路61号
代理机构 ：
大连智高专利事务所(特殊普通合伙)
代理人 ：
李楠
优先权 ：
CN202020673123.2
主分类号 ：
G01N23/00
IPC分类号 ：
G01N23/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料，例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
法律状态
2021-01-15 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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