一种X射线无损检测设备及检测方法
公开
摘要

本发明涉及无损检测技术领域,具体公开了一种X射线无损检测设备及检测方法,该X射线无损检测设备的铅房内形成检测空间,输送机构设置在铅房内,输送机构将放置有待检测工件的载物台从铅房一侧的第一送料口处移动至检测工位,光管组件的射线源能够向待检测工件发送X射线,探测器安装在移动机构上,移动机构固定在铅房顶部的内侧。本发明通过移动机构带动探测器到达检测空间内的任意位置,保证探测器始终对焦于光管组件的射线源的焦点。本发明还提供一种X射线无损检测设备的检测方法,应用上述的X射线无损检测设备对待检测工件进行无损检测,功能全面,操作简单,实现了多方位、全角度的检测,检测效率高。

基本信息
专利标题 :
一种X射线无损检测设备及检测方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114563427A
申请号 :
CN202210194512.0
公开(公告)日 :
2022-05-31
申请日 :
2022-03-01
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
陶桔刘永杰黄涛
申请人 :
无锡日联科技股份有限公司
申请人地址 :
江苏省无锡市新吴区漓江路11号
代理机构 :
北京品源专利代理有限公司
代理人 :
薛学娜
优先权 :
CN202210194512.0
主分类号 :
G01N23/04
IPC分类号 :
G01N23/04  G01N23/046  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料,例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/02
通过使辐射透过材料
G01N23/04
并形成材料的图片
法律状态
2022-05-31 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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