偏振光源和表面缺陷检测装置
授权
摘要

本实用新型提供了一种操作方便且能有效抑制高反光材料产品表面的强反光干扰的表面缺陷检测装置及偏振光源。包括支架(1),在所述支架(1)上环绕均布有若干块灯板(2),每块所述灯板(2)上设置有若干灯源(3),在每块所述灯板(2)的所述灯源(3)的表面上方对应设置有第一偏振片(4),每块所述第一偏振片(4)分别与该块第一偏振片(4)对应设置的所述灯板(2)相平行,每块所述灯板(2)及所述第一偏振片(4)相对于水平面为倾斜设置。本实用新型采用偏振光高角度照明,从根本上解决了高反光的问题,因为光的偏振特性可以有效消除高反光物体的镜面反射,而无法消除表面缺陷带来的散射光,从而提高了缺陷区域的信噪比,降低机器视觉系统的漏检率。本实用新型可应用于测试领域。

基本信息
专利标题 :
偏振光源和表面缺陷检测装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202022088717.X
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-09-22
授权号 :
CN213933620U
授权日 :
2021-08-10
发明人 :
熊志勇范建华曾成张晶
申请人 :
珠海市运泰利自动化设备有限公司
申请人地址 :
广东省珠海市斗门区新青科技工业园内B型厂房
代理机构 :
广州市红荔专利代理有限公司
代理人 :
王贤义
优先权 :
CN202022088717.X
主分类号 :
G01N21/88
IPC分类号 :
G01N21/88  G01N21/01  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/84
专用于特殊应用的系统
G01N21/88
测试瑕疵、缺陷或污点的存在
法律状态
2021-08-10 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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