高精度直下式背光源缺陷检测装置
授权
摘要
本实用新型涉及检测设备技术领域，尤其是高精度直下式背光源缺陷检测装置，它包括集光壳，所述集光壳的内底部固定安装有背光源，所述集光壳的内上部固定安装有反射‑透射镜，所述集光壳的顶面设置有出光口，所述集光壳的正上方设置有支撑架，所述支撑架的底面固定安装有相机壳，所述相机壳的内部固定安装有CCD相机，所述集光壳的左端固定安装有控制平台，所述控制平台的内部分别安装有图像采集传输模块和图像处理模块，所述控制平台的内顶部安装有显示模块；本实用新型有效区分相机自身影像和物体表面的成像，避免出现检测误判的情况，而且，检测精度也有进一步的提高，进而保证了产品的质量。
基本信息
专利标题 ：
高精度直下式背光源缺陷检测装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202021094112.5
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-06-15
授权号 ：
CN212459456U
授权日 ：
2021-02-02
发明人 ：
陈锦东
申请人 ：
东莞三协精工科技有限公司
申请人地址 ：
广东省东莞市高埗镇冼沙一坊工业区
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN202021094112.5
主分类号 ：
G01N21/95
IPC分类号 ：
G01N21/95 G02F1/13
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/84
专用于特殊应用的系统
G01N21/88
测试瑕疵、缺陷或污点的存在
G01N21/95
特征在于待测物品的材料或形状
法律状态
2021-02-02 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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