一种光源装置及缺陷检测系统

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摘要

本实用新型公开了一种光源装置及缺陷检测系统，光源装置包括外壳、光源组件、PCB板和反射面；光源组件包括多组光源，PCB板用于实现对每组光源的单独控制，反射面位于多组光源的出射光路上；光源的出射光线经过反射面的反射后相交于一相交点，或均匀照射于一目标面；缺陷检测系统包括光源装置，还包括待测物、成像装置和图像处理装置。本实用新型通过在光源装置内设置沿圆形轨迹分布的多组光源，利用多组光源在不同位置经反射至照射待测物以实现待测物的缺陷检测，能够避免光源发光角度的误差对特征检测的影响，优化了缺陷检测的效果。

基本信息

专利标题：

一种光源装置及缺陷检测系统

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN202021566123.9

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2020-07-31

授权号：

CN212301365U

授权日：

2021-01-05

发明人：

邹波杨相军刘敏

申请人：

东莞市沃德普自动化科技有限公司

申请人地址：

广东省东莞市南城区新基路的新基地科技创意园北区E栋第一层101室

代理机构：

北京集佳知识产权代理有限公司

代理人：

张子宽

优先权：

CN202021566123.9

主分类号：

G01N21/956

IPC分类号：

G01N21/956 G01N21/01