瓶底缺陷检测系统
授权
摘要
本实用新型提供了一种瓶底缺陷检测系统，该系统包括光源、反射镜阵列、集光装置、拍摄装置和控制装置；光源对位于检测位置的待检测产品的底部进行照射；所述反射镜阵列接收经所述底部的若干等分区域反射的若干束携带有底部信息的回光，并分别将各个所述等分区域反射的回光传输至所述集光装置；所述集光装置将所述若干束回光无重叠的反射至所述拍摄装置的视野范围内；所述拍摄装置根据采集到的所述若干束回光生成包括每一所述等分区域的底部图像并将所述底部图像发送至所述控制装置；所述控制装置根据所述底部图像对所述待检测产品的底部缺陷进行识别并输出识别结果。本发明克服了人眼目视检测速度慢、检测精度低且易出错的问题。
基本信息
专利标题 ：
瓶底缺陷检测系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202020641479.8
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-04-23
授权号 ：
CN212207061U
授权日 ：
2020-12-22
发明人 ：
钟球盛侯文峰吴隽陈雄杨兴波庞炯林
申请人 ：
广州番禺职业技术学院
申请人地址 ：
广东省广州市番禺区沙湾镇青山湖
代理机构 ：
广州三环专利商标代理有限公司
代理人 ：
陈旭红
优先权 ：
CN202020641479.8
主分类号 ：
G01N21/01
IPC分类号 ：
G01N21/01 G01N21/90
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/01
便于进行光学测试的装置或仪器
法律状态
2020-12-22 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载
