缺陷检测方法与系统
公开
摘要
一种缺陷检测方法，针对受测板的多个影像以及参考板的多个影像进行分析，并包含：对受测板的影像与参考板的影像进行面板校准程序；针对已校准的受测板的影像以及参考板的影像分别进行特征点对齐程序；针对已对齐的受测板的每一影像与参考板的对应影像相互比对以获得差异影像；及依据差异影像决定是否存在缺陷。
基本信息
专利标题 ：
缺陷检测方法与系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114298959A
申请号 ：
CN202011176753.X
公开（公告）日 ：
2022-04-08
申请日 ：
2020-10-29
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
徐敏堂廖家德
申请人 ：
由田新技股份有限公司
申请人地址 ：
中国台湾新北市
代理机构 ：
北京泰吉知识产权代理有限公司
代理人 ：
史瞳
优先权 ：
CN202011176753.X
主分类号 ：
G06T7/00
IPC分类号 ：
G06T7/00 G06V10/75 G01N21/88
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算；推算或计数
G06T
一般的图像数据处理或产生
G06T7/00
图像分析
法律状态
2022-04-08 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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