界面缺陷检测系统
授权
摘要

本实用新型提供了一种界面缺陷检测系统,涉及缺陷检测技术领域,该系统应用于具有热障涂层的被测物体,该热障涂层内掺杂有荧光材料;该系统包括激光光源、二向色镜、滤波片和成像装置;滤波片和成像装置设置在二向色镜的一侧,被测物体设置在二向色镜的另一侧,二向色镜被设置成使得入射到被测物体表面的激发光束与被测物体激发的荧光光束同轴。与固定搭建的检测系统相比,本实用新型提供的界面缺陷检测系统可以实现检测系统整体便携式,实现一次快速成像,从而减少了检测时间,提高了检测效率;并且由于采用同轴光路,检测结果更加贴近实际,从而提高了精确度。

基本信息
专利标题 :
界面缺陷检测系统
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201921108220.0
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-07-15
授权号 :
CN210742128U
授权日 :
2020-06-12
发明人 :
仇巍张雁恒亢一澜曲传咏张茜
申请人 :
天津大学
申请人地址 :
天津市南开区卫津路92号
代理机构 :
北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙)
代理人 :
李翠
优先权 :
CN201921108220.0
主分类号 :
G01N21/64
IPC分类号 :
G01N21/64  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/62
所测试的材料在其中被激发,因之引起材料发光或入射光的波长发生变化的系统
G01N21/63
光学激发的
G01N21/64
荧光;磷光
法律状态
2020-06-12 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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