增材制造的缺陷检测装置及缺陷检测系统
授权
摘要

本实用新型公开了一种增材制造的缺陷检测装置及缺陷检测系统,该缺陷检测装置包括激光发生机构、激光检测机构以及控制机构,控制机构分别与所述激光发生机构和激光检测机构连接,用于在增材制造过程中控制激光发生机构发射第一激光至增材制件,控制激光检测机构发射第二激光至增材制件以对第一激光产生的辐射信号进行检测,并接收激光检测机构反馈的检测信号。本实用新型能够实现对增材制件的缺陷检测,其结构简单易于实现,检测实时性较好、精度较高,并且能够避免增材制件的表面盲区的问题,有助于提高增材制件的成品质量。

基本信息
专利标题 :
增材制造的缺陷检测装置及缺陷检测系统
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201922229611.4
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-12-11
授权号 :
CN211576985U
授权日 :
2020-09-25
发明人 :
郭师峰冯伟吕高龙张艳辉徐天添李岩吴新宇
申请人 :
深圳先进技术研究院
申请人地址 :
广东省深圳市南山区西丽大学城学苑大道1068号
代理机构 :
深圳市威世博知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
黎坚怡
优先权 :
CN201922229611.4
主分类号 :
G01N21/88
IPC分类号 :
G01N21/88  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/84
专用于特殊应用的系统
G01N21/88
测试瑕疵、缺陷或污点的存在
法律状态
2020-09-25 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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