产品残留类缺陷的短路检测方法及系统及缺陷分类系统
授权
摘要
本发明公开了一种产品残留类缺陷的短路检测方法及系统及缺陷分类系统,涉及智能制造与人工智能技术领域,本发明利用缺陷区域内特征的等级轮廓关系,判断缺陷区域内是否存在像素区域内的短路现象,本发明能够放大缺陷区域得到标准区域,并判断标准区域内是否存在像素区域内的短路现象,本发明能够判断是否发生跨像素区域短路;本发明能够检测残留类缺陷是否造成短路,以及分析造成何种短路,大幅提升ADC模型对于特定短路缺陷的识别准确率。
基本信息
专利标题 :
产品残留类缺陷的短路检测方法及系统及缺陷分类系统
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN111932515A
申请号 :
CN202010796484.0
公开(公告)日 :
2020-11-13
申请日 :
2020-08-10
授权号 :
CN111932515B
授权日 :
2022-04-29
发明人 :
不公告发明人
申请人 :
成都数之联科技有限公司
申请人地址 :
四川省成都市武侯区一环路西一段菊乐路口1栋4层2号
代理机构 :
成都云纵知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
熊曦
优先权 :
CN202010796484.0
主分类号 :
G06T7/00
IPC分类号 :
G06T7/00 G06T7/11 G06T7/62 G06T7/136 G06K9/62
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算;推算或计数
G06T
一般的图像数据处理或产生
G06T7/00
图像分析
法律状态
2022-04-29 :
授权
2022-03-15 :
著录事项变更
IPC(主分类) : G06T 7/00
变更事项 : 申请人
变更前 : 成都数之联科技有限公司
变更后 : 成都数之联科技股份有限公司
变更事项 : 地址
变更前 : 610041 四川省成都市武侯区一环路西一段菊乐路口1栋4层2号
变更后 : 610042 四川省成都市武侯区锦绣街8号2层270号
变更事项 : 申请人
变更前 : 成都数之联科技有限公司
变更后 : 成都数之联科技股份有限公司
变更事项 : 地址
变更前 : 610041 四川省成都市武侯区一环路西一段菊乐路口1栋4层2号
变更后 : 610042 四川省成都市武侯区锦绣街8号2层270号
2020-12-01 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G06T 7/00
申请日 : 20200810
申请日 : 20200810
2020-11-13 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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