PCB缺陷检测方法、系统和存储介质
公开
摘要
本申请公开了一种PCB缺陷检测方法、系统和存储介质，涉及PCB制造技术，包括以下步骤：获取待检测PCB图像；从所述PCB图像中切割出电路印刷区域的图像，作为第一图像；将所述第一图像进行二值分割，得到第二图像；获取设计图，所述设计图对应于所述印刷区域的图像，所述设计图为二值图像；将所述第二图像和设计图每个对应像素点进行异或操作，得到第三图像；获取所述设计图的设计标准信息；根据所述设计标准信息，确定所述第三图像中的图案区域是否满足设计标准。
基本信息
专利标题 ：
PCB缺陷检测方法、系统和存储介质
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114612375A
申请号 ：
CN202210043020.1
公开（公告）日 ：
2022-06-10
申请日 ：
2022-01-14
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
韦宏征
申请人 ：
佛山市国立光电科技有限公司
申请人地址 ：
广东省佛山市南海区狮山镇罗村联和工业区东区三路11号
代理机构 ：
广州市越秀区哲力专利商标事务所(普通合伙)
代理人 ：
莫月燕
优先权 ：
CN202210043020.1
主分类号 ：
G06T7/00
IPC分类号 ：
G06T7/00 G06T7/11 G06T7/136 G06T7/80
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算；推算或计数
G06T
一般的图像数据处理或产生
G06T7/00
图像分析
法律状态
2022-06-10 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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