PCB缺陷检测方法、装置、设备及存储介质
实质审查的生效
摘要
本发明公开了一种PCB缺陷检测方法、装置、设备及存储介质，该方法包括：将待检测PCB产品的产品图片输入预设神经网络模型，获得待检测PCB产品的缺陷信息；获取预设放行缺陷标准，并将缺陷信息与预设放行缺陷标准进行对比，获得缺陷对比结果；根据缺陷对比结果判断待检测PCB产品是否存在可放行缺陷。本发明是通过将待检测PCB产品的产品图片输入预设神经网络模型获得待检测PCB产品的缺陷信息，将缺陷信息与预设方向缺陷标准对比获得缺陷对比结果，根据对比结果判断待检测PCB产品是否存在可放行缺陷，能够准确的对PCB产品存在的缺陷进行分类，并且能够满足不同客户对产品质量的要求，提高了PCB缺陷检测的准确度和普适性。
基本信息
专利标题 ：
PCB缺陷检测方法、装置、设备及存储介质
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114463284A
申请号 ：
CN202210046169.5
公开（公告）日 ：
2022-05-10
申请日 ：
2022-01-14
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
黄耀张峰
申请人 ：
阿丘机器人科技（苏州）有限公司
申请人地址 ：
江苏省苏州市昆山开发区前进东路科技广场1603室
代理机构 ：
深圳市世纪恒程知识产权代理事务所
代理人 ：
郭子氚
优先权 ：
CN202210046169.5
主分类号 ：
G06T7/00
IPC分类号 ：
G06T7/00 G06V10/764 G06V10/82 G06K9/62 G06N3/04 G06N3/08
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算；推算或计数
G06T
一般的图像数据处理或产生
G06T7/00
图像分析
法律状态
2022-05-27 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G06T 7/00
申请日 : 20220114
申请日 : 20220114
2022-05-10 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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