缺陷检测方法、装置、设备及存储介质
公开
摘要

本申请实施例公开了一种缺陷检测方法、装置、设备及存储介质,所述方法包括:确定待检测显示屏的目标灰度图像;对所述目标灰度图像依次进行至少两次阈值分割,并根据最末次阈值分割结果,确定所述待检测显示屏的缺陷区域;其中,各次阈值分割时采用的分割阈值根据本次阈值分割的参考灰度图像确定;首次阈值分割的参考灰度图像为所述目标灰度图像,非首次阈值分割的参考灰度图像为前次阈值分割的输出图像;通过上述技术方案,实现了在散弱缺陷提取过程中,保证缺陷轮廓整体的完整性。

基本信息
专利标题 :
缺陷检测方法、装置、设备及存储介质
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114298985A
申请号 :
CN202111546419.3
公开(公告)日 :
2022-04-08
申请日 :
2021-12-16
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
康照川解三霞周钟海姚毅杨艺
申请人 :
苏州凌云视界智能设备有限责任公司;苏州凌云光工业智能技术有限公司;凌云光技术股份有限公司
申请人地址 :
江苏省苏州市工业园区长阳街259号钟园工业坊A1-1F,A0-1F东侧一半
代理机构 :
北京品源专利代理有限公司
代理人 :
蔡舒野
优先权 :
CN202111546419.3
主分类号 :
G06T7/00
IPC分类号 :
G06T7/00  G06T7/11  G06T7/136  G01N21/88  G06T5/00  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算;推算或计数
G06T
一般的图像数据处理或产生
G06T7/00
图像分析
法律状态
2022-04-08 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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