缺陷检测方法、装置、设备和存储介质
实质审查的生效
摘要
本申请提供一种缺陷检测方法、装置、设备和存储介质,该方法包括:获取在多个光源方向下对被检测物体进行拍摄得到的多张第一图像;对所述多张第一图像进行光度立体成像处理,得到被检测物体对应的第二图像;将所述多张第一图像输入第一缺陷检测模型,得到第一缺陷检测结果;将第二图像输入第二缺陷检测模型,得到第二缺陷检测结果;根据第一缺陷检测结果和第二缺陷检测结果,确定被检测物体的最终缺陷检测结果。在本发明实施例提供的方案中,以可见光光源以及被检测物体为电池为例,可以结合多光源方向下采集的多个可见光图像以及光度立体图像这两种类型的图像准确地检测出电池表面是否具有缺陷。
基本信息
专利标题 :
缺陷检测方法、装置、设备和存储介质
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114266737A
申请号 :
CN202111498951.2
公开(公告)日 :
2022-04-01
申请日 :
2021-12-09
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
李晨阳陈想罗斌陈列汪彪
申请人 :
阿里巴巴(中国)有限公司
申请人地址 :
浙江省杭州市滨江区长河街道网商路699号4号楼5楼508室
代理机构 :
北京太合九思知识产权代理有限公司
代理人 :
刘戈
优先权 :
CN202111498951.2
主分类号 :
G06T7/00
IPC分类号 :
G06T7/00 G06N3/08
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算;推算或计数
G06T
一般的图像数据处理或产生
G06T7/00
图像分析
法律状态
2022-04-19 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G06T 7/00
申请日 : 20211209
申请日 : 20211209
2022-04-01 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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