伪缺陷库建立方法、缺陷检测方法、设备及存储介质
实质审查的生效
摘要

本发明公开一种伪缺陷库建立方法、缺陷检测方法、设备及存储介质,涉及图片处理技术领域,方法包括:获取至少一个初始样本,初始样本为标注的待检测零部件的待检测图;将初始样本输入缺陷样本生成模型,生成至少一个扩充图像,缺陷样本生成模型为生成对抗网络模型;根据至少一个初始样本与至少一个扩充图像,得到零部件伪缺陷库;本发明通过缺陷样本生成模型生成待检测图的扩充图像,得到零部件伪缺陷库,通过缺陷样本生成模型根据待检测图扩充缺陷样本,通过伪缺陷检测模型基于伪缺陷库检测并去除待检测图的伪缺陷,输出待检测图的缺陷种类,解决了现有的缺陷检测方法中缺陷样本分布不均的技术问题。

基本信息
专利标题 :
伪缺陷库建立方法、缺陷检测方法、设备及存储介质
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114511570A
申请号 :
CN202210413571.2
公开(公告)日 :
2022-05-17
申请日 :
2022-04-20
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
徐佐朱志华王佶熊海飞
申请人 :
深圳市信润富联数字科技有限公司;中信戴卡股份有限公司
申请人地址 :
广东省深圳市罗湖区桂园街道老围社区深南东路5016号蔡屋围京基一百大厦A座2001-06
代理机构 :
深圳市世纪恒程知识产权代理事务所
代理人 :
郭子氚
优先权 :
CN202210413571.2
主分类号 :
G06T7/00
IPC分类号 :
G06T7/00  G06V10/74  G06V10/774  G06V10/82  G06K9/62  G06N3/04  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算;推算或计数
G06T
一般的图像数据处理或产生
G06T7/00
图像分析
法律状态
2022-06-03 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G06T 7/00
申请日 : 20220420
2022-05-17 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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