缺陷检测方法及检测装置
公开
摘要
本发明涉及一种缺陷检测方法和缺陷检测装置，其中该方法包括：第一检测步骤：于AOI系统设置一缺陷模板并检测缺陷模板的缺陷类型，得到第一检测结果，若第一检测结果准确，则输出，否则进行第二检测步骤；第二检测步骤：将缺陷模板传输给AI模型，以检测缺陷模板的缺陷类型，得到第二检测结果，并计算AI模型的检测准确率，若第二检测结果准确且检测准确率符合设定阈值，则输出第二检测结果并对AI模型进行训练，若检测准确率小于设定阈值，进行第三检测步骤；第三检测步骤：将缺陷模板传输给复检系统，以将缺陷模板与预设模板进行匹配检测，得到第三检测结果，并计算复检准确率，若复检准确率符合设定阈值，则输出第三检测结果并对AI模型进行训练。
基本信息
专利标题 ：
缺陷检测方法及检测装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114494103A
申请号 ：
CN202011253928.2
公开（公告）日 ：
2022-05-13
申请日 ：
2020-11-11
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
虞斌赵丽娜王桂合
申请人 ：
艾聚达信息技术（苏州）有限公司
申请人地址 ：
江苏省苏州市苏州工业园区苏虹中路398号
代理机构 ：
北京市立康律师事务所
代理人 ：
梁挥
优先权 ：
CN202011253928.2
主分类号 ：
G06T7/00
IPC分类号 ：
G06T7/00 G06T7/73 G06T7/90 G06V10/74 G06V10/764 G06K9/62
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算；推算或计数
G06T
一般的图像数据处理或产生
G06T7/00
图像分析
法律状态
2022-05-13 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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