功率芯片缺陷检测方法、系统、设备及存储介质

授权

摘要

本申请涉及一种功率芯片缺陷检测方法、系统、设备及存储介质，涉及芯片测试领域。该功率芯片缺陷检测方法包括：对功率芯片进行电流测试，获得测试结果，其中，电流测试中施加到功率芯片上的测试电流大于功率芯片的额定电流，根据测试结果，检测出有缺陷的功率芯片。本申请用以解决通过晶圆测试和成品测试对功率芯片的缺陷检测不准确的问题。

基本信息

专利标题：

功率芯片缺陷检测方法、系统、设备及存储介质

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

CN113640644A

申请号：

CN202110845639.X

公开（公告）日：

2021-11-12

申请日：

2021-07-26

授权号：

CN113640644B

授权日：

2022-06-14

发明人：

梁赛嫦郭依腾曾丹吴佳蒙

申请人：

珠海格力电器股份有限公司;珠海零边界集成电路有限公司

申请人地址：

广东省珠海市前山金鸡西路

代理机构：

北京华夏泰和知识产权代理有限公司

代理人：

韩月玲

优先权：

CN202110845639.X

主分类号：

G01R31/28

IPC分类号：

G01R31/28 G01R31/26