微型芯片表面缺陷检测视觉伺服系统
授权
摘要
本实用新型提供一种故障定位准确、检测效率高、能够客观、无疲劳的实时在线检测的微型芯片表面缺陷检测视觉伺服系统。包括视觉子系统、检测子系统以及控制子系统；其中：视觉子系统用于对传送带上微型芯片进行图像采集和显示，并将信息传递给检测子系统，从而完成图像实时传输；检测子系统将获得清晰的图像进行图像分析处理，分析出图像中的信息，输出芯片中缺陷芯片的位置信息和分类信息；控制子系统,接受检测子系统输出信号，随后经控制器分析处理后输出控制信号控制执行结构。
基本信息
专利标题 ：
微型芯片表面缺陷检测视觉伺服系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202020281890.9
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-03-10
授权号 ：
CN211652581U
授权日 ：
2020-10-09
发明人 ：
李新庆陈乃阔吴登勇
申请人 ：
山东超越数控电子股份有限公司
申请人地址 ：
山东省济南市高新区孙村镇科航路2877号
代理机构 ：
济南泉城专利商标事务所
代理人 ：
纪艳艳
优先权 ：
CN202020281890.9
主分类号 ：
G01N21/88
IPC分类号 ：
G01N21/88 G01N21/01 B07C5/02 B07C5/36 B07C5/38
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/84
专用于特殊应用的系统
G01N21/88
测试瑕疵、缺陷或污点的存在
法律状态
2020-10-09 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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