本实用新型属于检测设备技术领域，具体涉及一种芯片表面缺陷检测装置，包括底板和控制面板，所述底板设有采集机构和放置板；所述采集机构包括驱动机构、连接块、安装板和若干个采集摄像头，所述底板后侧和侧面分别设有后挡和防护罩，所述驱动机构设于所述后挡，所述连接块与所述驱动机构连接，所述安装板与所述连接块连接，若干所述采集摄像头均匀设于所述安装板下端；所述底板上端开有定位框，所述放置板设于所述定位框内，所述放置板上端均匀开有若干放置槽，所述后挡通过阻尼转轴转动设有防护盖，本装置能够更加方便快捷高效的对芯片进行缺陷检测，提高生产的效率和质量。