缺陷检测方法及其装置、存储介质、程序产品
公开
摘要
本申请公开了一种缺陷检测方法及其装置、存储介质、程序产品，在获取待处理图像之后，根据获取待处理图像计算灰度梯度幅值图像和亮度校正图像，然后将待处理图像、灰度梯度幅值图像和亮度校正图像合并成三通道图像，接着对三通道图像进行缺陷检测处理得到第一缺陷图像。本申请能够提高针对缺陷的识别准确性，从而降低出现漏检的概率。本申请可以广泛应用于例如智能手机、平板电脑、笔记本电脑、台式计算机、服务器、车载终端等设备的图像处理技术中。
基本信息
专利标题 ：
缺陷检测方法及其装置、存储介质、程序产品
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114596290A
申请号 ：
CN202210242790.9
公开（公告）日 ：
2022-06-07
申请日 ：
2022-03-11
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
吴涛刘俊高斌斌李昱希王亚彪汪铖杰
申请人 ：
腾讯科技（深圳）有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市南山区高新区科技中一路腾讯大厦35层
代理机构 ：
广州嘉权专利商标事务所有限公司
代理人 ：
谭英强
优先权 ：
CN202210242790.9
主分类号 ：
G06T7/00
IPC分类号 ：
G06T7/00 G06T7/90 G06T5/50 G06T7/11 G06T7/136
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算；推算或计数
G06T
一般的图像数据处理或产生
G06T7/00
图像分析
法律状态
2022-06-07 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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