产品缺陷检测方法、电子设备、存储介质及程序产品
公开
摘要
本发明提供一种产品缺陷检测方法、电子设备、存储介质及程序产品，方法包括：通过确定待测产品图像；并获取产品缺陷检测结果，输入所述待测产品图像至产品缺陷检测模型，得到所述产品缺陷检测模型输出的产品缺陷检测结果；其中，产品缺陷检测模型用于根据所述待测产品图像的特征图与目标特征映射中心的距离，对待测产品图像进行产品缺陷检测；所述产品缺陷检测模型是基于不同位置和/或角度的样本产品图像训练得到的。本发明用以解决现有技术中产品缺陷检测依赖人工，不仅提升了人力成本，并且效率和准确率也难以保证的缺陷。
基本信息
专利标题 ：
产品缺陷检测方法、电子设备、存储介质及程序产品
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114463261A
申请号 ：
CN202111602331.9
公开（公告）日 ：
2022-05-10
申请日 ：
2021-12-24
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
吕承侃商秀芹
申请人 ：
中国科学院自动化研究所
申请人地址 ：
北京市海淀区中关村东路95号
代理机构 ：
北京路浩知识产权代理有限公司
代理人 ：
吴刚
优先权 ：
CN202111602331.9
主分类号 ：
G06T7/00
IPC分类号 ：
G06T7/00 G06K9/62 G06V10/764 G06V10/774
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算；推算或计数
G06T
一般的图像数据处理或产生
G06T7/00
图像分析
法律状态
2022-05-10 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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