一种缺陷检测方法、装置、电子设备和存储介质

实质审查的生效

摘要

本发明公开了一种缺陷检测方法、装置、电子设备和存储介质，该方法包括：根据连接器中各功能部件，将待检测连接器图像划分为多个区域；分别应用各功能部件对应的检测方式，对各功能部件对应的区域进行缺陷检测。避免了漏检和/或过检的情况，提高了连接器检测过程中的效率和准确率。

基本信息

专利标题：

一种缺陷检测方法、装置、电子设备和存储介质

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

CN114445318A

申请号：

CN202011111471.1

公开（公告）日：

2022-05-06

申请日：

2020-10-16

授权号：

暂无

授权日：

暂无

发明人：

刘俊星

申请人：

合肥欣奕华智能机器有限公司

申请人地址：

安徽省合肥市新站区龙子湖路与荆山路交口西南

代理机构：

北京同达信恒知识产权代理有限公司

代理人：

冯艳莲

优先权：

CN202011111471.1

主分类号：

G06T7/00

IPC分类号：

G06T7/00 G06T7/136

IPC结构图谱

G部——物理

G06

计算；推算或计数

G06T

一般的图像数据处理或产生

G06T7/00

图像分析

法律状态

2022-05-24 ：

实质审查的生效

IPC(主分类) : G06T 7/00
申请日 : 20201016

2022-05-10 ：

著录事项变更

IPC(主分类) : G06T 7/00
变更事项 : 申请人
变更前 : 合肥欣奕华智能机器有限公司
变更后 : 合肥欣奕华智能机器股份有限公司
变更事项 : 地址
变更前 : 230013 安徽省合肥市新站区龙子湖路与荆山路交口西南
变更后 : 230013 安徽省合肥市新站区龙子湖路与荆山路交口西南

2022-05-06 ：

公开

注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。

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