缺陷检测方法、装置、电子设备及可读存储介质
公开
摘要

本申请提供了一种缺陷检测方法、装置、电子设备及可读存储介质,包括:对待处理图像进行待检测物轮廓提取,得到待检测物的缺陷图;对所述缺陷图进行缺陷轮廓提取,以获得待检测物的缺陷面积;将所述缺陷面积与第一面积阈值比较,当所述缺陷面积大于所述第一面积阈值,确定所述待检测物存在缺陷。本申请通过对待检测物的图像进行轮廓提取,可以获取待检测物本体轮廓和缺陷轮廓,再进一步对该缺陷轮廓进行轮廓提取,获得缺陷的轮廓面积,将缺陷的轮廓面积与设定好的面积阈值进行对比后,便可以确定出待检测物存在缺陷。以此实现对目标物品的缺陷检测,减少了人为检测的工作强度,同时与人为检测相比不受主观情绪的影响,还增强了检测的准确性。

基本信息
专利标题 :
缺陷检测方法、装置、电子设备及可读存储介质
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114627092A
申请号 :
CN202210291632.2
公开(公告)日 :
2022-06-14
申请日 :
2022-03-23
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
不公告发明人
申请人 :
广东利元亨智能装备股份有限公司
申请人地址 :
广东省惠州市惠城区马安镇新鹏路4号
代理机构 :
北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙)
代理人 :
蒋姗
优先权 :
CN202210291632.2
主分类号 :
G06T7/00
IPC分类号 :
G06T7/00  G06T7/62  G06T7/70  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算;推算或计数
G06T
一般的图像数据处理或产生
G06T7/00
图像分析
法律状态
2022-06-14 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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