缺陷检测方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质
公开
摘要

本申请适用于工业自动化技术领域,提供了一种缺陷检测方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质,方法包括:获取待检测图像;将待检测图像输入预存的注意力生成对抗网络进行处理,输出目标图像;确定目标图像中的缺陷区域。由于注意力生成对抗网络中引入了注意力机制,使得受到注意力机制关注前景和背景图像有了明显的区分,利用注意力生成对抗网络对待检测图像进行处理,获得的目标图像可以是对前景图像增强、修改、或去除的图像,利用这样的目标图像检测缺陷区域,对待检测图像中被检测对象的缺陷实现自动的检测,可以省去手动标注的环节,提高检测效率,节省人工成本。

基本信息
专利标题 :
缺陷检测方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114596242A
申请号 :
CN202011395618.4
公开(公告)日 :
2022-06-07
申请日 :
2020-12-03
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
杨顺
申请人 :
TCL科技集团股份有限公司
申请人地址 :
广东省惠州市仲恺高新区惠风三路17号TCL科技大厦
代理机构 :
深圳中一联合知识产权代理有限公司
代理人 :
冷仔
优先权 :
CN202011395618.4
主分类号 :
G06T7/00
IPC分类号 :
G06T7/00  G06T7/11  G06T7/194  G06V10/74  G06K9/62  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算;推算或计数
G06T
一般的图像数据处理或产生
G06T7/00
图像分析
法律状态
2022-06-07 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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