缺陷检测方法、装置、设备及计算机可读存储介质
公开
摘要
本公开提供一种缺陷检测方法、装置、设备及计算机可读存储介质，方法包括：获取图像采集装置采集的目标检测物的原始图像；采用预设的类型检测模型对所述原始图像的类型进行检测，获得所述目标检测物对应的类型信息；根据所述目标检测物的类型信息，采用与所述类型信息对应的目标缺陷识别模型，对所述目标检测物进行缺陷识别，获得所述目标检测物对应的缺陷信息。由于在类型检测模型确定目标检测物的类型后，能够调用与该类型对应的缺陷识别模型，且该缺陷识别模型是通过将缺陷按照大小、强度和形状进行分类后训练得到的，能够学习不同种类缺陷的特征，因此能够更加准确地对目标检测物的缺陷进行识别，从而提高了缺陷检测的准确率。
基本信息
专利标题 ：
缺陷检测方法、装置、设备及计算机可读存储介质
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114596243A
申请号 ：
CN202011400423.4
公开（公告）日 ：
2022-06-07
申请日 ：
2020-12-03
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
黄建峰林义闽易万鑫廉士国
申请人 ：
中国联合网络通信集团有限公司;联通大数据有限公司
申请人地址 ：
北京市西城区金融大街21号
代理机构 ：
北京同立钧成知识产权代理有限公司
代理人 ：
朱颖
优先权 ：
CN202011400423.4
主分类号 ：
G06T7/00
IPC分类号 ：
G06T7/00 G06T7/11 G06T7/136 G06K9/62 G06V10/774 G06V10/764 G06V10/82 G06N3/04 G06N3/08 G01N21/88
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算；推算或计数
G06T
一般的图像数据处理或产生
G06T7/00
图像分析
法律状态
2022-06-07 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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