本申请涉及一种电子元器件划痕缺陷检测方法、装置、计算机设备、存储介质和计算机程序产品。所述方法包括：获取样本电子元器件的样本图像集，其中，样本图像集包括有划痕缺陷的样本图像以及无划痕缺陷的样本图像；基于平均精确度的平均值及样本图像集对划痕缺陷检测模型进行训练，调整划痕缺陷检测模型中的参数，获取训练后的划痕缺陷检测模型；根据训练后的划痕缺陷检测模型，对目标电子元器件进行划痕缺陷检测。采用本方法能够提高划痕缺陷检测模型的检测精度。