双向划痕检测结构
授权
摘要
本实用新型涉及一种双向划痕检测结构，包括相机组件以及光源，所述的光源与产品表面的水平延长面之间具有夹角；所述的光源具有壳体，所述的壳体内设置有多个发光体，所述的发光体以壳体的中心轴线为对称轴均匀的对称分布在壳体底部，发光体从壳体的中心轴线的两侧向内向下照射，发光体的照射方向与壳体的中心轴线之间具有夹角。本实用新型通过多个方向的光源照射产品，可以呈现多个方向上的划痕，提高了使用品检机产品的适用性，满足单光源解决双方向上的划痕检测。
基本信息
专利标题 ：
双向划痕检测结构
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921410332.1
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-08-28
授权号 ：
CN210487634U
授权日 ：
2020-05-08
发明人 ：
王岩松韩飞陈莉华
申请人 ：
征图新视（江苏）科技股份有限公司
申请人地址 ：
江苏省常州市武进区西太湖锦华路258-6号
代理机构 ：
常州品益专利代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
乔楠
优先权 ：
CN201921410332.1
主分类号 ：
G01N21/892
IPC分类号 ：
G01N21/892
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/84
专用于特殊应用的系统
G01N21/88
测试瑕疵、缺陷或污点的存在
G01N21/89
在移动的材料中，例如，纸张、织物中
G01N21/892
特征在于待测的瑕疵、缺陷或物品的特点
法律状态
2020-05-08 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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