一种晶圆划痕检测装置
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摘要

本实用新型公开了一种晶圆划痕检测装置,涉及晶圆划痕检测技术领域,为解决现有的晶圆划痕检测容易受到环境影响导致检测不够准确的问题。所述透明外箱外部上端的一侧安装有固定外壳,且固定外壳与透明外箱固定连接,所述固定外壳内部的中间位置处安装有第三驱动电机,且第三驱动电机与固定外壳通过固定块连接,所述第三驱动电机的输出端安装有叶轮,所述透明外箱外部前端的一侧安装有透明门板,且透明门板与透明外箱转动连接,所述透明外箱下端内部的一侧设置有内腔,所述内腔内部前端的一侧安装有储灰盒,所述储灰盒内部后端的一侧安装有过滤网,且过滤网与储灰盒固定连接,所述透明外箱内部下端靠近储灰盒的一侧设置有通风口。

基本信息
专利标题 :
一种晶圆划痕检测装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202122917196.9
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2021-11-25
授权号 :
CN216411226U
授权日 :
2022-04-29
发明人 :
王辉文单娜
申请人 :
武汉驿天诺科技有限公司
申请人地址 :
湖北省武汉市东湖新技术开发区光谷三路777号
代理机构 :
苏州拓云知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
高泽民
优先权 :
CN202122917196.9
主分类号 :
G01N33/00
IPC分类号 :
G01N33/00  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N33/00
利用不包括在G01N1/00至G01N31/00组中的特殊方法来研究或分析材料
法律状态
2022-04-29 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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