铝箔搪瓷密着性能的划痕检测方法
公开
摘要
本发明是属于搪瓷密着性能检测方法的技术领域。本发明是用加有一定压力的针头在铝箔搪瓷面上划出圆滚线划痕，检查划痕及其边沿瓷层的脱落情况，以此确定被测铝箔搪瓷的密着性能。本发明较之弯曲检测法，能更准确地确定出铝箔搪瓷的密着性能合格品。
基本信息
专利标题 ：
铝箔搪瓷密着性能的划痕检测方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN1036456A
申请号 ：
CN88104782.1
公开（公告）日 ：
1989-10-18
申请日 ：
1988-07-30
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
江义齐
申请人 ：
重庆市硅酸盐研究所
申请人地址 ：
四川省重庆市江北区石门
代理机构 ：
重庆市专利事务所
代理人 ：
陈忠应
优先权 ：
CN88104782.1
主分类号 ：
G01N19/04
IPC分类号 ：
G01N19/04
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N19/00
用机械方法测试材料
G01N19/04
测量材料之间的附着力，例如密封带的，涂层的
法律状态
1989-10-18 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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