划痕检测方法、装置、计算机设备和存储介质
实质审查的生效
摘要
本申请涉及划痕检测方法、装置、计算机设备和存储介质。所述方法包括：获取待检测的芯片图像，并基于所述芯片图像和已训练的划痕检测模型中的改进VGG16网络，确定第一特征图集，其中，所述第一特征图集包括三张图像尺寸不同的特征图；基于所述第一特征图集和所述已训练的划痕检测模型中的附加特征提取网络，确定第二特征图集，其中，所述第二特征图集包括三张图像尺寸不同的特征图；基于所述第一特征图集、所述第二特征图集和所述已训练的划痕检测模型中的检测网络，得到划痕检测结果。采用本方法能够提高对芯片进行划痕检测的准确度。
基本信息
专利标题 ：
划痕检测方法、装置、计算机设备和存储介质
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114331983A
申请号 ：
CN202111569908.0
公开（公告）日 ：
2022-04-12
申请日 ：
2021-12-21
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
赵玥罗军王小强邱宝军罗道军
申请人 ：
中国电子产品可靠性与环境试验研究所（（工业和信息化部电子第五研究所）（中国赛宝实验室））
申请人地址 ：
广东省广州市增城区朱村街朱村大道西78号
代理机构 ：
华进联合专利商标代理有限公司
代理人 ：
姚姝娅
优先权 ：
CN202111569908.0
主分类号 ：
G06T7/00
IPC分类号 ：
G06T7/00 G06N3/04 G06N3/08 G06V10/44
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算；推算或计数
G06T
一般的图像数据处理或产生
G06T7/00
图像分析
法律状态
2022-04-29 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G06T 7/00
申请日 : 20211221
申请日 : 20211221
2022-04-12 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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