缺陷分类方法、装置、存储介质、设备及计算机程序产品
公开
摘要
本申请公开了一种缺陷分类方法、装置、存储介质、设备及计算机程序产品，涉及人工智能技术领域，方法包括以下步骤：将若干目标图像输入训练获得的图像分类模型，以获得分类后的多个分类集；其中，若干目标图像为若干目标产品的图像，若干目标产品中存在不同的缺陷；分类集中包括分类后的至少两张目标图像；判断分类集中的各目标图像是否存在同一目标缺陷类型；若分类集中的各目标图像存在同一目标缺陷类型，则对分类集中的各目标图像进行分类处理，以获得分类集中各目标图像对应的目标产品的目标缺陷分类结果。本申请通过一次分类降低数据处理量，排除无关缺陷干扰后通过二次分类得到缺陷分类的结果，提升了对图像进行缺陷分类的效率与准确性。
基本信息
专利标题 ：
缺陷分类方法、装置、存储介质、设备及计算机程序产品
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114581723A
申请号 ：
CN202210483470.2
公开（公告）日 ：
2022-06-03
申请日 ：
2022-05-06
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
不公告发明人
申请人 ：
成都数之联科技股份有限公司
申请人地址 ：
四川省成都市武侯区锦绣街8号2层270号
代理机构 ：
广州三环专利商标代理有限公司
代理人 ：
王志
优先权 ：
CN202210483470.2
主分类号 ：
G06V10/764
IPC分类号 ：
G06V10/764 G06V10/75 G06K9/62 G06N3/04 G06N3/08
法律状态
2022-06-03 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载
