PCB缺陷的检测方法、装置、计算机设备及存储介质
公开
摘要
本申请提供一种PCB缺陷的检测方法、装置、计算机设备及存储介质，涉及图像处理技术领域。本申请通过缺陷检测模型对原始图片进行检测得到图中对应预估缺陷的目标缺陷框的像素特征，并截取出包含目标缺陷框的目标图片，提取目标缺陷框的边缘轮廓并计算该边缘轮廓的实际尺寸，判断该边缘轮廓的实际尺寸是否大于或者等于预设的缺陷标准值，若实际尺寸大于或者等于缺陷标准值则判定原始图片存在PCB缺陷，若实际尺寸小于缺陷标准值则判定原始图片不存在PCB缺陷。本发明能实现对PCB缺陷的准确定位与量化评估，提高了PCB检测的准确性和自动化程度。
基本信息
专利标题 ：
PCB缺陷的检测方法、装置、计算机设备及存储介质
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114581415A
申请号 ：
CN202210219122.4
公开（公告）日 ：
2022-06-03
申请日 ：
2022-03-08
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
不公告发明人
申请人 ：
成都数之联科技股份有限公司
申请人地址 ：
四川省成都市武侯区锦绣街8号2层270号
代理机构 ：
北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙)
代理人 ：
姚大雷
优先权 ：
CN202210219122.4
主分类号 ：
G06T7/00
IPC分类号 ：
G06T7/00 G06T7/13 G01N21/956
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算；推算或计数
G06T
一般的图像数据处理或产生
G06T7/00
图像分析
法律状态
2022-06-03 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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