对象缺陷检测方法、装置、计算机设备和存储介质
实质审查的生效
摘要
本申请涉及一种对象缺陷检测方法、装置、计算机设备和存储介质。方法包括:获取待检测图像对应的特征图;待检测图像为对目标对象进行拍摄得到的图像;目标对象为需要进行缺陷检测的对象;对特征图进行区域划分,得到待检测图像中各像素点对应的第一子特征图;将各第一子特征图输入至一一对应的第一目标区域分类器中,得到待检测图像对应的第一缺陷类型概率;将特征图输入至目标全局分类器,得到待检测图像对应的第二缺陷类型概率;第二缺陷类型概率包括待检测图像中各像素点针对各缺陷类型的归属概率;根据第一缺陷类型概率以及第二缺陷类型概率确定目标对象对应的缺陷类型。采用本方法能够提高目标对象缺陷类型识别的精度。
基本信息
专利标题 :
对象缺陷检测方法、装置、计算机设备和存储介质
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114494260A
申请号 :
CN202210401828.2
公开(公告)日 :
2022-05-13
申请日 :
2022-04-18
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
田倬韬王远易振彧刘枢吕江波沈小勇
申请人 :
深圳思谋信息科技有限公司
申请人地址 :
广东省深圳市南山区高新南九道45号三航科技大厦22楼
代理机构 :
华进联合专利商标代理有限公司
代理人 :
冯右明
优先权 :
CN202210401828.2
主分类号 :
G06T7/00
IPC分类号 :
G06T7/00 G06V10/26 G06V10/764 G06V10/80 G06V10/82 G06K9/62 G06N3/04
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算;推算或计数
G06T
一般的图像数据处理或产生
G06T7/00
图像分析
法律状态
2022-05-31 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G06T 7/00
申请日 : 20220418
申请日 : 20220418
2022-05-13 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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