物体表面缺陷检测方法、装置、计算机设备和存储介质
实质审查的生效
摘要

本申请涉及一种物体表面缺陷检测方法、装置、计算机设备、存储介质和计算机程序产品,应用于人工智能技术领域,用于提高物体表面缺陷检测精准度。所述方法包括:对待检测物体的物体图像进行图像增强处理,得到所述物体图像的增强图像;将所述增强图像输入到预先构建的缺陷检测模型中,通过所述缺陷检测模型对所述增强图像进行缺陷预测处理,得到所述增强图像的预测掩膜图像;所述预测掩膜图像携带有所述预测掩膜图像中各像素点对应的缺陷类别;根据针对所述待检测物体的缺陷检测指令,对所述预测掩膜图像中的缺陷类别进行过滤处理,得到所述待检测物体的目标缺陷。

基本信息
专利标题 :
物体表面缺陷检测方法、装置、计算机设备和存储介质
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114359228A
申请号 :
CN202210011649.8
公开(公告)日 :
2022-04-15
申请日 :
2022-01-06
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
王远刘枢吕江波沈小勇
申请人 :
深圳思谋信息科技有限公司;北京思谋智能科技有限公司
申请人地址 :
广东省深圳市南山区高新南九道45号三航科技大厦22楼
代理机构 :
华进联合专利商标代理有限公司
代理人 :
周清华
优先权 :
CN202210011649.8
主分类号 :
G06T7/00
IPC分类号 :
G06T7/00  G06V10/26  G06V10/80  G06K9/62  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算;推算或计数
G06T
一般的图像数据处理或产生
G06T7/00
图像分析
法律状态
2022-05-03 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G06T 7/00
申请日 : 20220106
2022-04-15 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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