缺陷识别方法、装置、计算机设备及计算机可读存储介质
公开
摘要
本申请提供了一种缺陷识别方法、装置、计算机设备及计算机可读存储介质，涉及缺陷检测技术领域。通过获取待检测OLED面板的初始图片，将初始图片输入预先训练的缺陷识别模型以得到初步识别结果，初步识别结果包括缺陷的类型及缺陷的置信度；判断置信度大于对应缺陷类型所预设的置信度阈值的全部缺陷是否存在至少两个预设类型的第一缺陷；若存在至少两个第一缺陷，计算各第一缺陷与对应的缺陷模板的相似度，获取第一缺陷的目标缺陷类型，第一缺陷的目标缺陷类型为与第一缺陷的相似度最大的缺陷模板对应的缺陷类型，目标缺陷类型作为初始图片的输出结果。通过本实施例提供的缺陷识别方法，能够提高判图的准确度。
基本信息
专利标题 ：
缺陷识别方法、装置、计算机设备及计算机可读存储介质
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114627089A
申请号 ：
CN202210281601.9
公开（公告）日 ：
2022-06-14
申请日 ：
2022-03-21
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
不公告发明人
申请人 ：
成都数之联科技股份有限公司
申请人地址 ：
四川省成都市武侯区锦绣街8号2层270号
代理机构 ：
北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙)
代理人 ：
梁韬
优先权 ：
CN202210281601.9
主分类号 ：
G06T7/00
IPC分类号 ：
G06T7/00 G06V10/774 G06V10/74
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算；推算或计数
G06T
一般的图像数据处理或产生
G06T7/00
图像分析
法律状态
2022-06-14 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载
