一种缺陷检测方法、装置、计算机设备和存储介质
公开
摘要
本申请实施例公开了一种缺陷检测方法、装置、计算机设备和存储介质；本申请实施例可应用于云技术、人工智能、智慧交通、辅助驾驶等各种场景。本申请实施例可以获取针对工业元器件的至少一个缺陷检测信息；基于缺陷检测信息确定至少两个性能衡量指标，以及性能衡量指标之间的指标均衡关系；根据至少一个缺陷检测信息和指标均衡关系，构建性能衡量指标的指标调整函数，指标调整函数包括参数约束条件和待求解判别阈值；根据参数约束条件对指标调整函数中的待求解判别阈值进行求解处理，得到指标调整函数中的求解判别阈值；基于求解判别阈值对缺陷检测信息进行可信度判别，得到工业元器件的缺陷检测结果，可以提高对工业元器件进行缺陷检测的效率。
基本信息
专利标题 ：
一种缺陷检测方法、装置、计算机设备和存储介质
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114330090A
申请号 ：
CN202111120360.1
公开（公告）日 ：
2022-04-12
申请日 ：
2021-09-24
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
刘文龙包利强高斌斌
申请人 ：
腾讯科技（深圳）有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市南山区高新区科技中一路腾讯大厦35层
代理机构 ：
深圳翼盛智成知识产权事务所(普通合伙)
代理人 ：
李玉婷
优先权 ：
CN202111120360.1
主分类号 ：
G06F30/27
IPC分类号 ：
G06F30/27 G06N3/04 G06N3/08 G06N3/12 G06F111/04 G06F111/06 G06F111/08
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算；推算或计数
G06F
电数字数据处理
G06F30/27
使用机器学习，例如人工智能，神经网络，支持向量机或训练模型
法律状态
2022-04-12 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载
