软件缺陷定位方法、装置、电子设备及介质
实质审查的生效
摘要
本公开提供一种软件缺陷定位方法和装置，方法包括：获取软件测试日志，软件测试日志包含软件缺陷信息；提取软件测试日志中的代码覆盖信息，代码覆盖信息用于表征各行代码的运行完成度；根据代码覆盖信息得到已执行代码；从已执行代码中定位软件缺陷。本公开的方法缩小了软件缺陷的寻找范围，提高了软件测试的效率，为进一步的软件缺陷分析奠定了基础。
基本信息
专利标题 ：
软件缺陷定位方法、装置、电子设备及介质
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114281705A
申请号 ：
CN202111647492.X
公开（公告）日 ：
2022-04-05
申请日 ：
2021-12-29
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
黄友俊李星吴建平张明明
申请人 ：
赛尔网络有限公司
申请人地址 ：
北京市海淀区中关村东路1号院清华科技园8号楼B座赛尔大厦
代理机构 ：
中科专利商标代理有限责任公司
代理人 ：
李世阳
优先权 ：
CN202111647492.X
主分类号 ：
G06F11/36
IPC分类号 ：
G06F11/36
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算；推算或计数
G06F
电数字数据处理
G06F11/00
错误检测；错误校正；监控
G06F11/36
通过软件的测试或调试防止错误
法律状态
2022-04-22 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G06F 11/36
申请日 : 20211229
申请日 : 20211229
2022-04-05 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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