光学元件表面缺陷的检测方法、装置及电子设备
公开
摘要
本申请涉及一种光学元件表面缺陷的检测方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质，涉及光学检测技术领域。光学元件的待检测表面刻蚀有菲涅尔纹，该方法包括：获取待检测表面的灰度图像；获取灰度图像中分布菲涅尔纹的目标区域的极坐标图像；去除极坐标图像中与菲涅尔纹对应的菲涅尔纹图案；根据极坐标图像中剩余各图案的图案区域确定极坐标缺陷区域；在灰度图像中标注与极坐标缺陷区域对应的缺陷区域。
基本信息
专利标题 ：
光学元件表面缺陷的检测方法、装置及电子设备
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114565552A
申请号 ：
CN202111615387.8
公开（公告）日 ：
2022-05-31
申请日 ：
2021-12-27
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
崔世君王建成胥洁浩金玲赵俊瑞韩雪
申请人 ：
歌尔光学科技有限公司
申请人地址 ：
山东省潍坊市高新区清池街道永春社区惠贤路3999号歌尔光电产业园三期1号厂房
代理机构 ：
北京博雅睿泉专利代理事务所(特殊普通合伙)
代理人 ：
马铁良
优先权 ：
CN202111615387.8
主分类号 ：
G06T7/00
IPC分类号 ：
G06T7/00 G06T3/40 G06T5/30
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算；推算或计数
G06T
一般的图像数据处理或产生
G06T7/00
图像分析
法律状态
2022-05-31 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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