基于特征重构的表面缺陷检测方法
实质审查的生效
摘要
本发明为基于特征重构的表面缺陷检测方法,首先利用缺陷生成器在正常图像上模拟生成缺陷图像;正常图像和缺陷图像分别输入到多尺度特征生成器中,分别提取正常图像对应的正常特征和缺陷图像对应的缺陷特征;然后,将缺陷特征作为自编码重构网络的输入,将正常特征作为自编码重构网络的重构目标,对缺陷特征进行重构,得到重构特征;最后,将缺陷特征和重构特征在通道维度上进行拼接,形成两通道的特征向量,拼接后的特征再输入到类孪生网络中,利用类孪生网络提取重构前后特征之间的差异进行缺陷检测,生成缺陷检测掩码图。该方法基于以正常特征为重构目标的特征重构网络,利用类孪生网络提取重构前后特征之间的差异,生成高质量的缺陷检测图像。
基本信息
专利标题 :
基于特征重构的表面缺陷检测方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114419014A
申请号 :
CN202210083931.7
公开(公告)日 :
2022-04-29
申请日 :
2022-01-19
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
张军李妍张洋黄若飞李思敏付英健都旭曹慧博刘保辉李朝阳
申请人 :
河北工业大学
申请人地址 :
天津市红桥区丁字沽光荣道8号河北工业大学东院330#
代理机构 :
天津翰林知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
蔡运红
优先权 :
CN202210083931.7
主分类号 :
G06T7/00
IPC分类号 :
G06T7/00 G06T5/00 G06V10/80 G06V10/82 G06V10/77 G06K9/62 G06N3/04 G06N3/08
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算;推算或计数
G06T
一般的图像数据处理或产生
G06T7/00
图像分析
法律状态
2022-05-20 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G06T 7/00
申请日 : 20220119
申请日 : 20220119
2022-04-29 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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