产品缺陷检测方法、装置、设备及可读存储介质
公开
摘要

本发明提供一种产品缺陷检测方法、装置、设备及可读存储介质。该方法包括:若提取的几何形状特征参数与对应的几何形状特征参数预设值之间的差值绝对值和/或提取的灰度特征参数与对应的几何形状特征参数预设值之间的差值绝对值小于或等于阈值,则通过计算得到目标特征图像、目标特征图像与有缺陷产品特征图像之间的第一马氏距离以及目标特征图像与无缺陷产品特征图像之间的第二马氏距离;若第一马氏距离小于或等于第二马氏距离,则确定待检测图像所属的产品有缺陷;否则,则确定待检测图像所属的产品无缺陷。通过本发明,解决了现有技术中如果某些缺陷的样本很少,无法满足训练参数模型要求,就会导致检测结果不准确的问题。

基本信息
专利标题 :
产品缺陷检测方法、装置、设备及可读存储介质
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114612469A
申请号 :
CN202210498896.5
公开(公告)日 :
2022-06-10
申请日 :
2022-05-09
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
孙杰杨义禄张国栋李波
申请人 :
武汉中导光电设备有限公司
申请人地址 :
湖北省武汉市武汉经济技术开发区高科技产业园16号楼4楼
代理机构 :
武汉智权专利代理事务所(特殊普通合伙)
代理人 :
张凯
优先权 :
CN202210498896.5
主分类号 :
G06T7/00
IPC分类号 :
G06T7/00  G06T7/40  G06T7/90  G06K9/62  G06V10/77  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算;推算或计数
G06T
一般的图像数据处理或产生
G06T7/00
图像分析
法律状态
2022-06-10 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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