屏幕损伤缺陷检测方法、装置、设备及可读存储介质
授权
摘要

本申请涉及一种屏幕损伤缺陷检测方法、装置、设备及可读存储介质,涉及屏幕缺陷检测技术领域,包括获取第一图像和第二图像,第一图像为屏幕在视觉光源下被拍摄的图像,第二图像为屏幕自发光后被拍摄的图像;分别对第一图像和第二图像进行可疑缺陷区域的标识处理,得到处理后的第一图像和第二图像;将处理后的第二图像映射至处理后的第一图像上,在处理后的第一图像上提取与处理后的第二图像上的可疑缺陷区域存在交集的第一可疑缺陷区域;当检测到第一可疑缺陷区域的特征值大于预设的目标缺陷特征阈值时,则第一可疑缺陷区域为目标缺陷。本申请不仅可提高对缺陷的提取精度,还可有效降低检测难度和成本并缩短检测耗时。

基本信息
专利标题 :
屏幕损伤缺陷检测方法、装置、设备及可读存储介质
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114264669A
申请号 :
CN202210203559.9
公开(公告)日 :
2022-04-01
申请日 :
2022-03-03
授权号 :
CN114264669B
授权日 :
2022-05-17
发明人 :
毛涌王雷李渊江宝焜
申请人 :
武汉精立电子技术有限公司;武汉精测电子集团股份有限公司
申请人地址 :
湖北省武汉市东湖新技术开发区流芳园南路22号
代理机构 :
武汉智权专利代理事务所(特殊普通合伙)
代理人 :
张凯
优先权 :
CN202210203559.9
主分类号 :
G01N21/95
IPC分类号 :
G01N21/95  G01N21/01  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/84
专用于特殊应用的系统
G01N21/88
测试瑕疵、缺陷或污点的存在
G01N21/95
特征在于待测物品的材料或形状
法律状态
2022-05-17 :
授权
2022-04-19 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 21/95
申请日 : 20220303
2022-04-01 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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